塞貝克系數(shù)電阻測試儀的主要功能、測試范圍及測試條件綜合說明

一、主要功能

雙參數(shù)同步測試

l 塞貝克系數(shù)：采用靜態(tài)直流法，測量材料在溫差下的熱電勢（單位：μV/K）。

l 電阻率/電導率：通過四端法測量電阻，計算電導率（單位：S/cm）。

l 數(shù)據(jù)集成分析：支持同步獲取塞貝克系數(shù)和電阻率數(shù)據(jù)，直接計算熱電優(yōu)值（ZT值），用于評估材料的熱電轉(zhuǎn)換效率。

智能軟件系統(tǒng)

l 自動完成信號激勵、數(shù)據(jù)采集、實時處理及結果輸出，支持曲線比較、一階/二階求導、多重峰分析等功能。

l 支持數(shù)據(jù)導出至Excel、ASCII格式，兼容樣品溫度多點校正和焓變校正。

二、測試范圍

三、測試條件

環(huán)境控制

l 氣氛類型：惰性、氧化、還原、真空環(huán)境。

l 適用場景：高溫合金在還原氣氛下的穩(wěn)定性測試、燃料電池催化劑的氧化環(huán)境導電性分析等。

l 樣品兼容性

樣品形狀：圓柱形或棱柱形：2 至 5 mm（面寬），23mmφ6mm，23mm、圓盤狀（10、 12.7、 25.4 mm）。

l 夾持結構： 三明治夾持設計，探頭距離可調(diào)（4/6/8mm），確保接觸穩(wěn)定性。

l 電極材料： 鎳電極（-100～500℃）、鉑電極（-100～1500℃）。

l 長期穩(wěn)定性：電源輸出0~1A，支持連續(xù)高溫實驗（如1500℃下長周期測試）。

四、典型應用場景

l 熱電材料開發(fā)：半導體、方鈷礦等材料的ZT值計算。

l 能源器件研究：鋰電電極電阻率、固態(tài)電解質(zhì)界面特性分析。

l 惡劣環(huán)境測試：高溫超導材料在真空/還原氣氛下的電輸運特性。